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numerik jena光柵KIT R 411B 92/3600 K01 RA細分誤差
瀏覽次數(shù):47發(fā)布日期:2025-03-25

德國NUMERIK JENA成立于1976年,開發(fā)、生產和銷售高分辨率和高精度光電掃描直線光柵尺和旋轉編碼器。我們的產品是業(yè)內的,其特別小巧的尺寸 - 靈活通用性使這些產品得到廣泛的應用。我們的EPIFLEX讀數(shù)模塊擁有優(yōu)良的性能,特別適用于集成在所有高科技的應用中。

我們擁有先進的生產技術,并用先進技術生產高科技的測量系統(tǒng)。豐富的自主生產設備確保產品的高質量和高重復精度。我們致力于不斷提高和開發(fā)創(chuàng)新的產品,在國際市場上贏得市場地位。NUMERIK JENA擁有現(xiàn)代化的生產技術,包括光刻技術、薄膜技術、結構和連接技術、機械生產和組裝技術。這些技術不僅縮短生產時間,還提供更高靈活性。

無論是標準化的產品還是個性化的產品,我們的高質量測量系統(tǒng)都是您的理想選擇。我們愿與您一道共同探索能滿足您應用要求的解決方案。

我公司全體員工為您提供支持,幫助您實現(xiàn)創(chuàng)意和在全球各地保持成功

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LIKgo是NUMERIK JENA推出的全新、特別設計的直線光柵尺,用以更好地滿足客戶的要求。全新兩場讀數(shù)模塊提升多項性能,簡化用戶的安裝操作。

 

 

全新入門級的LIKgo敞開式光學光柵尺性能優(yōu)異,為即將推出的多款產品打造基礎。全新設計還創(chuàng)新地融合NUMERIK JENA產品的突出優(yōu)點。全新LIK系列產品設計的目標是:易用性、廣泛的應用范圍和高質量標準。

性能特點

  • 小巧和輕型讀數(shù)頭

  • 20 µm柵距和測量步距達78.125 nm

  • 全新2場掃描技術,提供高的信號質量

  • 無相位和偏移誤差

  • 更小細分誤差

  • 極小的功耗和發(fā)熱

  • 無需其它電子電路,在讀數(shù)頭中細分TTL信號

  • 安裝后可進行電子調試,減小靜態(tài)安裝誤差

  • 改進“調試工具"的連接

技術參數(shù)